日前，国科微宣布公司自主研发的NANDXtra®可靠性引擎推出第三代版本——NANDXtra® Gen3，极大地提升闪存颗粒的可靠性，并延长使用寿命3~5倍，标志着国科微在固态硬盘控制器自主研发道路上取得了又一重大技术突破。与此同时，搭载NANDXtra® Gen3可靠性引擎的国科微GK2302V200系列控制器芯片即将上市，全面兼容128层TLC与QLC闪存颗粒，为用户提供更为出色的数据访问体验。
固态硬盘（Solid State Disk，SSD）从诞生到现在，历经SLC、MLC到TLC的闪存颗粒换代。如今随着QLC颗粒的逐渐普及，数据存储密度获得再次提升，成本也随之降低，QLC颗粒受到越来越多固态硬盘企业的青睐。不过，由于单位电荷密度增加，颗粒变得更加不稳定，这就对控制器芯片企业提出了更高的要求。如何在颗粒持续更新换代的前提下，兼顾读写性能与用户数据的可靠性，成为摆在控制器芯片企业面前的一个重要课题。
作为国内领先的自主控制器芯片及固态硬盘解决方案企业，国科微始终将用户数据的可靠性摆在首位，独创了NANDXtra®可靠性引擎。经过7年时间的演进，NANDXtra®可靠性引擎迭代至第三代，对用户数据提供全方位的可靠性保障。
全新的NANDXtra® Gen3可靠性引擎采用国科微专利技术，在数据通路上整合了二级磨损均衡策略、三级RAID引擎（Redundant Arrays of Independent Disks，磁盘阵列）以及4K LDPC（Low-density Parity-check，低密度奇偶校验）纠错算法，在不影响性能的前提下，大大提升了数据可靠性。 
二级磨损均衡策略采用国科微专利技术，对闪存颗粒块进行单独管理，根据磨损（PE）状况进行动态块权重排序，分为两级调整，确保写入数据的全局均衡，杜绝出现区域块失效问题，从源头延长闪存颗粒使用寿命；RAID引擎采用国科微专利技术三级RAID引擎，仅用占比不到5%的存储空间，对闪存颗粒进行Page、Die、CE级别的冗余保护，全面杜绝单点故障；LDPC引擎引入基于国科微全新动态调整专利技术的4K LDPC引擎，在纠错能力达到业界一流水平的前提下，实现整个IP面积和功耗的全面领先。
长期的测试结果显示，在NANDXtra® Gen3可靠性引擎的加持下，闪存颗粒平均使用寿命整体提升3到5倍，为采用QLC颗粒的SSD企业以及搭载使用QLC颗粒SSD的整机企业免去后顾之忧。
目前，搭载国科微NANDXtra® Gen3可靠性引擎的GK2302V200系列控制器芯片即将正式量产。同时，GK2302V200系列已完成与128层TLC和QLC 闪存颗粒的设计兼容，并且，GK2302V200工程样品已通过有关权威测试机构的测试验证，结果表明其可靠性、稳定性、性能均可与国际同类产品相媲美。
国科微存储将持续秉持“构筑安全存储芯基石”理念，以自主固态存储芯片为根基，为客户提供性能领先、安全可信赖的固态硬盘解决方案，从单一的自主控制器芯片提供商向固态硬盘解决方案提供商转型，助推客户迈入数字经济时代